* 中文版

CEF首页 展商中心 观众中心 媒体中心 住宿交通 广告服务
  
 媒体中心
  合作媒体
  新闻发布
  媒体报道
 
 
当前位置:媒体中心 > 新闻发布

专业研讨会关注“新型电子产品的测试手段”
2006年10月27日  来源:CEF组委会

近年随着我国电子信息产品制造业规模的不断扩张,电子测量仪器市场年均增长率在30%左右,呈现出高速增长的态势。时值“十一.五”规划的开局年,为推动我国电子仪器产业的发展,中国电子器材总公司和中国电子仪器行业协会定于2006年11月24日在上海新国际博览中心W3号馆M10会议室举办“第七届国际电子测试与测量专业研讨会”。

本次会议以“新型电子产品的测试手段”为主题,由中国电子仪器行业协会秘书长徐春龄和中国电子学会电子测量与仪器分会常务副主任崔建平共同主持,美国泰来极电子设备有限公司、美国福禄克国际公司、北京自动测试技术研究所、 美国国家仪器有限公司、中芯国际集成电路制造有限公司、美国泰克公司、挪威联广验证股份有限公司、美国安捷伦科技等知名企业均将出席本次会议,与业内专业人士分享目前仪器仪表领域的新近技术和心得。(咨询:杨雪梅小姐 010-51662329-17)




 
友情连接

 
关于我们 - 观众注册 - 广告服务 - 联系方式 - 合作媒体 - 网站导航 - English

   版权所有:中国电子器材总公司  京ICP备05021074号
Copyright © 2002-2006 China Electronic Appliance CORP. All rights reserved.